為大家介紹普及一下關(guān)于X熒光光譜分析儀的常用術(shù)語。
1、X射線強(qiáng)度X-ray intensity
X射線熒光光譜分析中的強(qiáng)度系指單位時間內(nèi)的計數(shù)，通常用I表示。
2、背景background
疊加在分析線上的連續(xù)譜，主要來自試料對入射輻射的散射。
3、能量分辨energy resolution
脈沖高度分布的半高寬與平均脈沖高度之比，用百分?jǐn)?shù)表示。
4、分析線analyse lines
需要對其強(qiáng)度進(jìn)行測量并據(jù)此判定被測分析元素含量的特征譜線。X射線熒光光譜分析中一般應(yīng)選擇強(qiáng)度大、干擾少、背景低的特征譜線作為分析線。
5、經(jīng)驗系數(shù)法empirical coefficients method
用經(jīng)驗的數(shù)學(xué)校正公式，依靠一系列標(biāo)準(zhǔn)試料以實(shí)驗方法確定某種共存元素對分析線的吸收增強(qiáng)影響系數(shù)和重疊干擾系數(shù)而加以校正的方法。
6、干擾線interference lines
與分析線重疊或部分重疊，從而影響對分析線強(qiáng)度進(jìn)行準(zhǔn)確測量的譜線。
7、 標(biāo)準(zhǔn)試料test portion for calibration cruve
用于繪制校準(zhǔn)曲線或進(jìn)行校正的一套已知組成和含水量量的度料。
8、檢出限limit of detection
在一定置信水平下能檢出的最低含量。
9、校準(zhǔn)曲線 calibration curve
校準(zhǔn)曲線也稱工作曲線，即通過測量一套與試料化學(xué)組成、物理、化學(xué)狀態(tài)相似的標(biāo)準(zhǔn)系列的X射線強(qiáng)度，將其與相應(yīng)的元素含量用最小二乘法擬合成的曲線，用以計算在相同的儀器條件下所測未知試料中分析元素的含量。
10、基體效應(yīng)matrix effects
指試料的化學(xué)組成和物理-化學(xué)狀態(tài)對分析元素?zé)晒釾射線強(qiáng)度的影響，主要表現(xiàn)為吸收增強(qiáng)效應(yīng)、顆粒度效應(yīng)、表面光潔度效應(yīng)、化學(xué)狀態(tài)效應(yīng)等。
11、基本參數(shù)法fundamental-parameters method
用原級X射線的光譜分布、質(zhì)量吸收系數(shù)、熒光產(chǎn)額、吸收突變比、儀器幾何因子等基本參數(shù)計算出純元素分析線的理論強(qiáng)度，將測量強(qiáng)度代入基本參數(shù)法數(shù)學(xué)模型中，用迭代法計算至達(dá)到所要求的精度，得到分析元素含量的理論計算方法。
12、標(biāo)準(zhǔn)化試料test portion for standardization of instrument
用于校正儀器漂移的試料。對標(biāo)準(zhǔn)化試料的基本要求是元素分析線有適當(dāng)?shù)膹?qiáng)度并可長時間保持穩(wěn)定。
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