在使用X射線熒光法測量，熔融法制樣是目前來說一種比較廣泛的制樣方法。使用測量后，有些因素是會影響到樣品的測量結果，除去儀器本身的誤差外，在制樣過程中，有些環(huán)節(jié)對測量的結果會產生一定的影響，那如何消除這些誤差因素是我們在常規(guī)制樣時所需要考慮的了。
熔融石英
（1）首先一個就是在熔融制樣時，樣品表面產生的燒損，這些肯定是會對樣品的檢測產生影響。
（2）另外就是樣品的冷卻速度，冷卻需要慢慢的，如果冷卻速度太快，冷卻的越快，對結果的影響就會越大。
（3）樣品的預氧化對于準確度（對S和AS）的影響也很大，還有試樣的組成情況對全鐵影響也不小。
（4）當前主流XRF綜合穩(wěn)定度均優(yōu)于0.1%。因此XRF分析誤差主要由樣品所引起，更確切地說，是由于制樣產生的樣品高度誤差以及樣品定位誤差所引起。有關實驗表明，采用鉑/金坩堝鑄型的自動熔樣機制備的玻璃熔片，表面曲率的變化導致的樣品定位誤差可高達100微米。有些粉末壓片后分析表面可能因膨脹而出現(xiàn)彎曲（例如含高硅的樣品），富含碳酸鈣的樣品有時也可能發(fā)生彎曲。近來，一些XRF主力廠商紛紛將其新品由上照射方式改為下照射方式，一是簡化XRF結構，更重要的考慮則是減小樣品定位誤差。