X射線熒光光譜儀是一款應用相對比較廣泛的儀器,那他有什么產品特性呢:
X射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測,對產品和材料質量進行無損檢測,對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段,也是材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。
X射線熒光光譜儀的產品特點:
1.當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由此產生了重疊峰。自行開發的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
2.在測定微量成分時,由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,X熒光分析儀可配置4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出醉具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
3.X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾,從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
4.逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。
5.在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
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