貴金屬因其價(jià)值高，對(duì)測(cè)量精度要求較高，X熒光分析儀采用的X射線熒光光譜技術(shù)作為一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，檢出限低，適合用來(lái)檢測(cè)樣品中貴金屬的組成和含量，目前已經(jīng)成為貴金屬分析領(lǐng)域中的主要檢測(cè)手段。
X射線熒光分析儀作為一種較為成熟的元素分析技術(shù)，具有簡(jiǎn)單快速，準(zhǔn)確度高，精密度好，多元素同時(shí)測(cè)定等特點(diǎn)，X射線熒光分析儀的發(fā)展經(jīng)歷了幾十年，從第一臺(tái)波長(zhǎng)色散型X熒光分析儀的產(chǎn)生，到ED-XRF和ED-XRF合為一體的儀器的問(wèn)世，其結(jié)構(gòu)和功能上都有著很大的改進(jìn)，使的XRF在地質(zhì)、礦石、冶金、考古、貴金屬檢測(cè)等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。在貴金屬檢測(cè)方面，由于X熒光光譜儀測(cè)定貴金屬操作快捷、自動(dòng)化程度高，已經(jīng)成為貴金屬分析領(lǐng)域中主要的檢測(cè)手段。而為了適應(yīng)各種不同形態(tài)、不同性質(zhì)的貴金屬檢測(cè)，X熒光光譜儀也經(jīng)歷了結(jié)構(gòu)從簡(jiǎn)單到復(fù)雜，分析速度從慢到塊，分析精度從低到高的發(fā)展。
X熒光光譜儀的貴金屬檢測(cè)
在X熒光光譜儀出現(xiàn)后，已經(jīng)迅速在各種科研和工業(yè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，發(fā)展前期，主要還是應(yīng)用基本的波長(zhǎng)色散型和能量色散型。貴金屬檢測(cè)領(lǐng)域，使用更多的也是能量色散型X熒光光譜儀，例如，使用其測(cè)量金涂層厚度，測(cè)量多層薄膜厚度，測(cè)量噴鍍過(guò)程中的金濃度，測(cè)量貴金屬元素含量。
X熒光光譜儀，是科學(xué)檢測(cè)貴金屬含量的有效方式。