波長色散型（WDXRF）X射線熒光光譜儀和能量色散型（EDXRF）X射線是同屬于X射線熒光分析儀，產生信號的方法相同，最后得到的波譜也極為相似，但由于采集數據的方式不同，WDXRF和EDXRF的原理和儀器結構上有所不同，功能也有區別：
一、原理區別
X射線熒光光譜法，使用X射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線。WDXRF是用分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X射線波長和強度，從而測定各種元素的含量。而EDXRF是借高分辨率敏感半導體檢查儀器與多道分析器將未色散的X射線熒光按光子能量分離X射線光譜線，根據各元素能量的高低來測定各元素的量，由于原理的不同，所以他們的儀器結構也不同。
WDXRF，一般由光源（X射線管），樣品室，分光晶體和檢測系統等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的衍射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要打，一般為2—3千瓦，單X射線管的效率極低，只有1%的功率轉化為X射線輻射功率，大部分電能均轉化而產生高溫，所以X射線管需要專門的冷卻裝置（水冷或油冷），因此WDXRF的價格往往比EDXRF高。
EDXRF，一般由光源（X射線管），樣品室，各檢測系統等組成，比WDXRF少了一個分光晶體，由于這一特點，使EDXRF具有如下的特點：
1、儀器結構簡單，省略了浸提的精密運動裝置，也無需精確調整。還避免了晶體衍射所造成的前度損失，光源使用的X射線管功率低，一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發生器和冷卻系統，空氣冷卻即可，節省電力。
2、EDXRF的光源，樣品，檢測器彼此靠的近，X射線的利用率很高，不需要光學聚集，在累計整個光譜時，對樣品位置變化不像WDXRF那樣敏感，對樣品形狀也無特殊要求。
3、在能量色散光譜儀中，樣品發出的全部特征X射線光子同時進入檢測器，這樣奠定了使用多道分析器和熒光同時累計和實現全部能譜（包括背景）的基礎，也能清楚地表明背景和干擾線。因此，半導體檢測器X射線光譜儀比晶體X射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作。
4、EDXRF減少了化學狀態引起的分析線波長的飄移影響。由于同時累積還減少了儀器的漂移影響，提高了凈計算的統計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時累積觀察和測量所有元素，而不是按特定譜線分析特定元素。因此，減少偶然錯誤判斷某元素的可能性。
光的色散現象
三、功能區別
考慮到各種情況，EDXRF和WDXRF的檢測限基本相同。但在（高能光子）范圍內能量色散的分辨率好些，在長波（低能光子）范圍內，波長色散的分辨率好些。就定性分析而言，在分析多種元素時能量色散優于單道晶體譜儀，就測量個別分析元素而言，波長色散好些。如果分析的元素事先不知道，用能量色散較好，而分析元素已知則用多道晶體色散儀好，對易受放射性損傷的樣品，如果液體，有機物（可能發生輻射分解），玻璃品，工藝品（可能發生褪色）等，用WDXRF分析特別有利。WDXRF很適合動態系統的研究。如在催化，腐蝕，老化，磨損，改性和能量轉換等于表面化學過程有關的研究。
總之，EDXRF和WDXRF兩種儀器，各有所有點和不足，它們只能互補，而不能替代。