我們將在下面為大家帶來的是關于X熒光光譜儀的發展歷史，從它第一次為世人所知，到被如今被廣泛應用，另外我們也為大家介紹它的產品特征。
X熒光光譜儀的發展歷史
X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進行分析的一種常用的分析儀器。X射線(又稱倫琴射線或X光)是一種波長范圍在0.01～10nm之間的電磁輻射形式，是德國科學家倫琴在1895年進行陰極射線的研究時，發現的“一種新的射線”。隨后，1896年，法國物理學家喬治(Georges S)發現X射線熒光。
1948年，Friedman和Briks應用蓋格計數器研制出波長色散X射線熒光光譜儀，1969年美國海軍實驗室成功研制第一臺能量色散X射線熒光光譜儀，自此，X射線熒光光譜法進入蓬勃發展階段，特別是隨著材料科學、電子技術和計算機的飛速發展，X射線熒光分析技術及其軟件的不斷開發，使得EDXRF光譜儀發展逐步完善，無論是硬件還是軟件的開發與波長色散X射線熒光(EDXRF)光譜儀基本同步。
創想儀器 EDX-6000型X熒光光譜儀
X熒光光譜儀的檢測特征
① 是一種真正意義上的無損檢測方法，具有不污染環境及低耗等優點。被測樣品在測量前后，無論其化學成分、重量、形態等都保持不變，特別適合在現場或在線分析，能實時獲取多種數據。
② 分析速度快，由于一般無需進行樣品預處理，甚至無需樣品的制備，X熒光光譜儀可以對大量的樣品進行快速預篩選分析。一般情況下，檢測一個樣品需3分鐘左右。
③ 應用范圍廣。可以同時測定樣品中多種元素，元素可檢測含量范圍從10^-6至100％，廣泛用于地質、冶金、化工、材料、石油、醫療、考古等諸多領域，能量色散X射線熒光光譜儀已成為一種強有力的定性和半定量的分析測試技術。能量色散X熒光光譜儀器的發展，使X射線熒光分析方法更為有效，其應用領域更加廣泛。
以上就是這次為大家帶來的X熒光光譜儀的相關內容。