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為什么X熒光光譜儀的樣品需要粉末
發布時間:2021-08-13 點擊:1822

使用X熒光光譜儀檢測樣品中,其中很大一部分時間都是在對樣品的制備上,礦石樣品怎么檢測,常規都是使用粉末壓片法。

當我們取得礦石樣品時,你會看見什么,是一整塊的礦石,礦石樣品有個特點就是不均勻性,單論一整塊礦石,內元素都不是均勻分布。對被測熒光輻射有貢獻的樣品實際體積,取決于被測波長的有效穿透深度。也就是說,樣品必須是完全均勻的。因為如果樣品成分隨深度變化,那么測得的計數就代表不了整個樣品。當樣品制備粗糙,不同組成的顆粒大小不同時,就容易出現這種現象。如果在制備過程中,樣品制備粗糙,顆粒大小不同,那就會造成顆粒效應。

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礦石怎么檢測

粉末壓片法的優點是簡單、快速、經濟,在分析工作量大,分析精度要求不太高時應用很普遍。

壓片法制樣分三步:干燥和焙燒混合和研磨壓片。有粉末直接壓片、粉末稀釋壓片、用粘結劑襯底和鑲邊等方法。由于粒度效應的存在,粉末壓片制樣引起的強度測量誤差隨粒度增大呈線性增長,因此原則上要將樣品粉碎至250目,甚至更細。

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礦石檢測

分析線的波長越長,粉末的粒度效應就越顯著。完全消除這些效應的辦法就是采用熔融技術,將樣品熔成玻璃片。這不僅能有效消除粒度效應,還可以消除礦物效應和晶體效應,使樣品均勻一致,降低制樣誤差,并且能保持很好的制樣重現性。

但是壓片法的一個主要問題在于其表面易吸潮,不能長期保存。

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