X熒光光譜儀采用的是X射線熒光來進行檢測的分析儀器，讓我們一起來進一步了解一下。
X射線的性質
X射線是作為一種電磁波存在，X射線具有波粒兩重性的特點：光電效應，吸收、散射和衍射。
吸收：當X射線穿過物質時要減弱，減弱的大小，取決于吸收介質的厚度和密度，在用以吸收介質里，不同波長的射線減弱的程度也不同。
散射：散射系數由相干（瑞利）散射和非相干（康普頓）散射組成。相干散射是指當X光子與電子碰撞時，方向改變而能量沒有損失，其波長未變。若電子所受約束松弛，碰撞的X光子要損失一部分能量給電子，因而被散射的光子能量減少，這種散射過程為非相干。
衍射：衍射是由于相干散射線的干涉而產生的。常用的衍射模型是布拉格模型，見下圖，波長為λ的平行單色X射線束，以θ角照射到間距為d的一組晶面上。每個晶面所有方向上散射入射線束。但是，只有在特定的方向上，才產生增強效應。
布拉格衍射模型
這就是布拉格方程，其中n是衍射級數，n=1, 2, 3, .. d為衍射面間距（A）；θ為入射線和衍射面之間的夾角。X射線光譜儀，通常以2θ（衍射線和入射線之間的夾角）來表示。
一臺X熒光光譜儀由X光管、光學系統、探測器和計算機系統組成，另外還包括冷卻、真空、進樣和樣品制備等輔助設備。
以上就是這次為大家帶來的關于X熒光光譜儀的相關內容，你學到了嗎？
不知道你對光譜分析這個概念有沒有大致的了解了呢。