如今，X射線熒光被廣泛的應(yīng)用于多種檢測(cè)儀器上，下面我們來(lái)簡(jiǎn)單說(shuō)一下關(guān)于X射線熒光分析儀器們的檢驗(yàn)檢測(cè)。
X射線熒光光譜法的應(yīng)用主要取決于儀器技術(shù)和理論方法的發(fā)展。X射線熒光分析儀器主要有三種類(lèi)型：實(shí)驗(yàn)室、不同激發(fā)源的熒光X射線光譜儀和非色散熒光分析儀；小型便攜式X射線熒光分析儀；工業(yè)中的特殊儀器，如多光路X射線量子儀等，這些儀器和方法已廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、化工、機(jī)械、石油、農(nóng)業(yè)、醫(yī)藥、衛(wèi)生、物理、化學(xué)、生物、滴血、天文等工業(yè)和科研領(lǐng)域，分析范圍包括元素周期表中的大多數(shù)元素。超鈾元素也用這種方法測(cè)定。分析靈敏度隨儀器條件、分析對(duì)象和待測(cè)元素而變化。
新型儀器的檢出限一般為10-5~10-6克/克，有的可達(dá)10-7~10-9克/克。至于常量分析，由于現(xiàn)代儀器的穩(wěn)定性，X射線熒光分析的準(zhǔn)確度與經(jīng)典化學(xué)分析相當(dāng)。即使是開(kāi)展不久的輕元素分析也是如此。此外，由于現(xiàn)代儀器的高度自動(dòng)化，該方法特別適用于爐前工業(yè)分析或工藝過(guò)程的控制分析。它在一些工業(yè)國(guó)家的工礦企業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用，已經(jīng)成為一種非常重要的常規(guī)分析方法。
創(chuàng)想儀器EDX-9000型X熒光光譜儀
以上只是X射線熒光分析儀在元素分析中應(yīng)用的一部分。當(dāng)然，這些應(yīng)用程序非常重要。也可以說(shuō)是其二三十年快速發(fā)展的關(guān)鍵。此外，它還可以有效地用于確定薄膜的厚度和成分，如冶金工業(yè)中的涂層或金屬板的厚度，涂層工藝中的涂層厚度，以及其他工業(yè)部門(mén)中的薄膜厚度和成分，如金屬腐蝕、感光材料，磁帶和光放大器。它還可以用于動(dòng)態(tài)分析，連續(xù)測(cè)定一個(gè)體系在其物理化學(xué)過(guò)程中的組成變化。
以上就是這次小編為大家?guī)?lái)的關(guān)于采用X射線熒光分析儀器們的檢驗(yàn)檢測(cè)。