之前的文章中，小編為大家介紹了關于X熒光光譜儀中誤差的來源，儀器本身問題及操作中出現的問題，這次要為大家帶來的是關于試樣和在分析中出現的問題，導致的測量誤差。
首先為大家帶來的是關于X熒光光譜儀檢測試樣問題帶來的誤差，可以分為以下幾個方面：
1、試樣易磨性。有的試樣沒辦法進行簡單磨樣，磨樣比較困難易磨性較差，對測量造成影響。?
2、試樣成分。有的試樣基本組成成分與標準試樣組成成分不一致，也會影響測定結果。
3、基體效應。基體中其它元素對分析元素的影響，包括吸收和增強效應，吸收效應直接影響對分析元素的激發和分析元素的探測強度。增強效應使分析元素特征輻射增強。?
4、不均勻性效應。X射線強度與顆粒大小有關，大顆粒吸收大，小顆粒吸收小，這是試樣粒度的影響。這其實是對測量粉末樣品時候需要注意的，研磨要仔細，均勻。
5、譜線干擾。各譜線系中譜線產生重疊、干擾，還有來自不同衍射級次的衍射線之間干擾。?
X熒光光譜儀EDX-6000
接下來帶來的是在X熒光光譜儀分析會帶來誤差的原因：
1、樣品沒有磨細，沒有達到規定的粒度，這和樣品本身和研磨力度都有關系。
2、粉末樣品需要壓實以減少試樣的不均勻性。
3、選擇無干擾的譜線、降低電壓至干擾元素激發電壓以下，選擇適當分光晶體、計數管、準直器或調整脈沖高度分析器、提高分辯本領，在分析晶體和探測器之間放置濾光片，濾去或減弱干擾譜線。
3、嚴格按儀器設備管理辦法安裝、調試好儀器設備，避免儀器誤差。
4、嚴格按照操作規程認真操作，避免人為的操作誤差。
以上小編為大家帶來的關于X熒光光譜儀試樣和分析兩個環節對X熒光光譜儀的測量誤差影響。