用X熒光光譜儀測生鐵中的Si分析與化學分析誤差比較大，C和S與碳硫分析儀對不上，C的差距最大，S的分析有時候差距比較大，一般±2左右。分析標樣還可以，這是為什么呢？
（1）首先你要搞清楚分析方法的適用范圍，確定分析結果的不確定度，這樣問題就突現的比較明顯了。
（2）可能是制樣導致的差距，可以多分析幾個標樣，看看怎樣，如果標樣分析不相差，只是樣品分析存在差距，那就可以從制樣過程中找原因，樣品制樣過程過熱，也可能導致碳有差距。
（3）另外碳分析并不是熒光強項，大偏差正常；其它元素分析時必須考慮制樣問題，保持分析樣品與建立曲線時一致。
（4）使用儀器制造商提供的人工晶體分析Si（如果有的話）；通常，XRF分析 C和S沒有碳硫分析儀準確。
（5）主要原因是基體影響造成的。要采用與被測樣品基體相同、含量接近的標準物質進行校正，予以克服。
（6） 兩種方法都存在誤差。XRF對Si的重現性不好，其受溫度影響較大，精度不高，XRF對重元素的分析精度還可以。CS分析儀對CS分析的重現性很好，應可以信任。
（7）C用熒光肯定誤差較大，S與碳硫分析儀還是比較接近的，可能標準曲線樣與測試樣基體差別較大，一般工業上要每天對曲線進行維護的！
（8）分析生鐵中的硅可能會出現與化學值形成系統性的偏差，這可能是和生產工藝及澆鑄過程有關，可以采用數學方法進憲修正，關于碳硫，可能產生不穩定的偏差，這與制樣手法，磨樣力度，時間等制樣條件有關，所以，一般生鐵中碳硫最好不要用X熒光分析，可以用碳硫儀分析。
創想GLMY?X熒光光譜儀和碳硫儀